2016質(zhì)量工程師初級(jí)基礎(chǔ)與理論測(cè)試題

　　單項(xiàng)選擇題

　　1、采用不合格品數(shù)作為統(tǒng)計(jì)量適用的常規(guī)控制圖為(　　)。

　　A.P圖

　　B.c圖

　　C.u圖

　　D.np圖

　　2、直方圖的形狀有多種類型,其中一種稱為孤島型,形成這種形狀的原因可能是多方面的,常見的原因是(　　)。

　　A. 分組過多

　　B. 不適當(dāng)?shù)姆纸M

　　C. 剔除了不合格或不合格品的數(shù)據(jù)

　　D. 混雜了不同分布的數(shù)據(jù)

　　4、2002年5月1日起，中國對(duì)強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證使用的標(biāo)志為(　)。

　　A.“長(zhǎng)城”標(biāo)志

　　B.“CCIB“標(biāo)志

　　C.“CCC”標(biāo)志

　　D.方圓認(rèn)證標(biāo)志

　　多項(xiàng)選擇題

　　5、以下關(guān)于調(diào)查表的說法中正確的是(　　)。

　　A. 調(diào)查表的目的就是記錄數(shù)據(jù)

　　B. 調(diào)查表只能收集數(shù)據(jù)，并不能提供數(shù)據(jù)的分布，分層等有關(guān)信息

　　C. 設(shè)計(jì)良好的調(diào)查表不僅用于采集數(shù)據(jù)，還可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行簡(jiǎn)單處理

　　D. 調(diào)查表可以用于工序分布調(diào)查、不合格項(xiàng)調(diào)查、不合格位置調(diào)查，但不能用于不合格原因調(diào)查

　　E. 工序分布調(diào)查可以起到替代直方圖的作用

　　6、樣本成為簡(jiǎn)單隨機(jī)樣本的條件是 (　　)。

　　A. 每個(gè)個(gè)體在總體中都有相同的機(jī)會(huì)入樣

　　B. 每個(gè)個(gè)體在總體中都有不同的機(jī)會(huì)入樣

　　C. 從總體中抽取的每個(gè)個(gè)體對(duì)其他個(gè)體的抽取無任何影響

　　D. 隨機(jī)性

　　7、設(shè)X的分布列為

X	1    2    3    4    5
P	p1    p2   p3    p4   p5

　　概率P(2≤X<5)=(　　).

　　A. p2+ p3+p4+p5

　　B. p2+ p3+p4

　　C. P(X<5)- P(X<2)

　　D. 1- P(X<2)-P(X>4)

　　8、 與B、C類不合格相比，A類不合格特性是(　　)的特性。

　　A.更關(guān)鍵

　　B.造成質(zhì)量損失更大

　　C.對(duì)質(zhì)量的要求更高

　　D.顧客關(guān)注度低

　　E.輕微不符合

　　9、描述樣本中心位置的統(tǒng)計(jì)量有(　　)。

　　A.樣本方差

　　B.樣本標(biāo)準(zhǔn)差

　　C.樣本均值

　　D.樣本極差

　　E.樣本中位數(shù)

　　10、 增大抽樣方案的AQL值意味著(　　)。

　　A.降低質(zhì)量要求

　　B.可能會(huì)減少樣本量

　　C.提高對(duì)過程的質(zhì)量要求

　　D.減小交檢批量

　　E.提高質(zhì)量要求

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